организовать мероприятие в Cколтехе
оставить заявку
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe
Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe оснащен двумя колонами электронной Elstar с высокоточной технологией UC+ для получения изображений с высоким разрешением и ионной Phoenix для наиболее быстрой, простой и наиболее точной пробоподготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии. Совмещение двух колон позволяет проводить эксперименты по визуализации пористости, химического состава, кристаллографической ориентировки зерен с использованием методики Slice-and-view. Микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe позволяет проводить изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен и т.д., поскольку оборудован детекторами ETD, TLD, DBS, EDX, EBSD, STEM 3+, с возможностью работы в BF, DF и HAADF режимах.
Год производства, фирма-производитель, страна производства: 2018, Thermo Fisher Scientific (TFS), Нидерланды.
Технические характеристики:
Электронный пучок (E-beam) | Ионный пучок (I-beam) | Диапазон ускоряющих напряжений | Диапазон токов |
0,6 нм при 30 кВ (СПЭМ) | 4,0 нм при 30 кВ | E-beam: 20 В – 30 кВ | E-beam: >0,8 пА |
0,6 нм в диапазоне 15 кВ-2 кВ | 2,5 нм при 30 кВ | I-beam: 500 В – 30 кВ | I-beam: 0,1 пА – 2,5 мкА |