Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe 

Двухлучевой сканирующий электронный микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe оснащен двумя колонами электронной Elstar с высокоточной технологией UC+ для получения изображений с высоким разрешением и ионной Phoenix для наиболее быстрой, простой и наиболее точной пробоподготовки образцов для просвечивающей электронной микроскопии. Совмещение двух колон позволяет проводить эксперименты по визуализации пористости, химического состава, кристаллографической ориентировки зерен с использованием методики Slice-and-view. Микроскоп Helios G4 Plasma FIB Uxe позволяет проводить изучение морфологии, микроструктуры, размера частиц, толщины пленок, гетероструктур их элементного и фазового составов, кристаллографической ориентировки зерен и т.д., поскольку оборудован детекторами ETD, TLD, DBS, EDX, EBSD, STEM 3+, с возможностью работы в BF, DF и HAADF режимах.

Год производства, фирма-производитель, страна производства: 2018, Thermo Fisher Scientific (TFS), Нидерланды.

Технические характеристики: