Основные услуги ЦКП «Визуализация высокого разрешения»

Исследование морфологии частиц

Изучение морфологии поверхности образца, при необходимости применение детектора обратно рассеянных электронов

Исследование элементного состава образца (по 5 точкам)

Исследование элементного состава образца (картирование по 3 областям)

Исследование морфологии частиц

Изучение морфологии поверхности образца, при необходимости применение детектора обратно рассеянных электронов

Исследование элементного состава образца (по 5 точкам)

Исследование элементного состава образца (картирование по 3 областям)

Изготовление и визуализация кроссекции

Подготовка ламели для исследования на ПЭМ

Изучение многослойных структур в режиме СПЭМ, включая исследование элементного состава образца (по линии)

Изучение кристаллографической ориентировки зеренной структуры

Изучение морфологии наночастиц в ПЭМ или СПЭМ режимах

Изучение зеренной структуры образца с определением плотности дислокаций

Исследование кристаллической структуры образца с применением электронной дифракции

Визуализация кристаллической структуры образца в режиме высокого разрешения ПЭМ и СПЭМ

Решение кристаллической структуры образца с использованием электронной томографии обратного пространства

Определение элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) (картирование по 3 областям)

Картирование элементного состава образца с использованием методики энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии (EDX) с атомным разрешением (по 3 областям)

Исследование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) (получение спектров в 5 точках)

Картирование элементного состава образца, включая легкие элементы, с использованием спектроскопии энергетических потерь электронов (EELS) в режиме СПЭМ (по 3 областям)

Визуалицаия наночастиц с использованием электронной томографии

Визуализация многослойных структур (гетероструктур) с атомным разрешением